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荧光膜厚仪,日本荧光X线膜厚计,荧光膜厚计,镀层测厚仪

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品牌: 力川
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
所在地: 广东 东莞市
有效期至: 长期有效
最后更新: 2015-06-15
浏览次数: 1063
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公司基本资料信息
 
 
产品详细说明

产品型号: EX-3000      
  品牌:日本电测      
产品简介:          
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本机能精确测量极细小物件镀膜厚度,可进行单层及多层膜厚测定、合金膜厚成份比同时测定及无素的光谱峰值测定分析。
       
主要技术参数:        
  仪器特点:      
  搭载MS-WINDOWS系统(优越的操作性与高精度测定)  
  使用与IBM PC兼容个人电脑,采用MS-WINDOWS软体,使用时多彩多姿。
  采用二种滤波器      
  用用数位式滤波器外另有机械式滤波器(两种滤波器),在测定时,若是*适当的条件下,
  经常可得到*高的精度。    
  准值仪5种孔径内藏式      
  *小的准值仪孔径仅0.1 mm,可测定极微小的部品。  
  标准:0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另备有2种特别规格可供选购。
  0.05,0.1,0.2,0.3,0.5      
  0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5      
           
  自动测定测量台      
  利用鼠标来调整测量位置,非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时,可连续自动测定,
  利用座标补正、连结频道,来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
  优越的显示机能      
  测定部显示尽像的表示      
  X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置,可由倍率
  率更机能来实现尽面上测出物放大。    
  在膜厚测定中的能谱表示    
  由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示,操作简单。
  提长资料处理的速度      
  充实测量报告的作成机能    
  采用MS-WINDOW软件,测定画的撷取,非常简便,可充衬测量报告的制作机能。可同时间
  隔处理多项工作,机器在测量中亦可处理其它工作:包括如测量报告的制作。
  测定物膜厚附着分布表示    
  以三次元图案来表示测定物膜厚附着状态的分布,作判定时一目了然。 获得安心的*保*性。
  自己诊断机能及X线管保食机能    
  自己诊断机能,迅速的对策来排除机器的因扰。附有X线管的使用时间及耐久时间表示机能,
  可加强保养的安全性。      
  仪器详细介绍:      
  1. X线源:油浸式1.2mA小型微小焦点X线管. 50kV管电压,可变管电压。
  2. 照射方式:由上而下垂直照射方式。  
  3. 检出器:比例计数管。    
  4. 滤波器:采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器,可单一或同时使用。
  5. 准直仪:Collimator 采用五种孔径一体成型式,可自动切换使用。
  0.1,0.2,0.5,1.0,2.0φL.    
  (选购) 0.05×0.5,0.05,0.1,0.2,0.5φL.  
  (选购) 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5φL.  
  6. 样品观测系统:彩色CCD及高画质显示屏。  
  7. 多能谱分析器:使用256高频分析器,光谱自动分析,在执行测量及运算时,非常快速。
  贰. 计算机操作部:      
  8. 计算机系统:(※仅供参考)     
    IBM 兼容中文个人计算机.      
    CPUIntel Celeron 1GHz.     
    RAM128 MB.      
    Floppy Disk3.5 ×1  40倍速 CD-ROM ×1.  
    Hard Disk40 GB.      
    17" 高画质显示屏.      
    EPSON彩色喷墨式打印机。    
  9. 本机型(CO**OS-1X系列)之操作系统采中文窗口(Windows98)对话式操作,非常简便。
  -1-        
  参. 特性说明:      
  10. 测量项目:      
    单层膜厚测定.          
    2层膜厚测定.        
    3层膜厚测定.          
    无电解镍膜厚测定.        
    合金膜厚成份比同时测定.      
    元素的光谱峰值测定分析.    
  11. 测量材质:原子序22(Ti) ~ 82(Pb)为激发法测量。    原子序22以下为吸收法测量。
  12. 测量范围:原子序22 ~ 24 , 约 0.2 ~ 20 um.         原子序25 ~ 40 , 约 0.1 ~ 30 um.   原子序
  41 ~ 51 , 约 0.2 ~ 70 um.   原子序52 ~ 82 , 约 0.05~ 10 um.
  13. 测量机能:       
        同一点重复测定机能     
    输出形式设定.      
        能谱测定.      
  14. 测量条件或膜厚规格可以保存.    
  当要测量相同的制品时,若测量条件已储存,可以马上进行测量。
  *大检量线档案数:可登录储存100组档案。  
  *大测量档案数  :可登录储存300组档案。  
  15. 档案记录:      
    每一个批号可储存无限个测量数据.(因所使用的计算机之容量大小而定)
    每一个测量档案可输入及储存公司名称.  
    每个批号可单独执行统计处理.    
  -2-        
    每个测量档案可输入不同的检量线(校正曲线).  
  16. 数据处理:      
     统计值表示:平均值、标准偏差、*大值、*小值、上下限值范围、Cp、Cpk。
    X-R 管制图.      
    柱状图:有自动设定及自己任意设定二种方式。  
    可彩色打印观物显示屏上所观测之图像。  
  17. 底材补正:当样品与标准片的底材不同时,可作底材补正。
  18. 观物显示屏:十字刻度线的高分辨率彩色观物显示屏。
  肆. 安全装置.      
  19. 本机俱有自动安全断电系统功能.    
  20. 由锁匙开关来控制X 线输出,以防止外人任意操作.  
  伍. 其它机能.      
  21. 密码辨识功能      
  22. 装置维护调整.      
  23. 测量部主机: 尺寸:362(W) ×425(D) ×486(H) L.
  重量:约 44.2 Kg.      
  24. 操作部:(※仅供参考)      
    计算机尺寸:180(W) ×420(D) ×360(H) L.     
  重量:约 8.8 Kg.      
    显示屏尺寸:360(W) ×420(D) ×370(H) L.  
  重量:约16.5 Kg.      
    打印机尺寸:500(W) ×250(D) ×300(H) L.  
  重量:约 4.3 Kg.      
  -3-        
  柒. X-Y-Z轴可移动式测量台.    
  25. 测量台尺寸及移动量.    
  测量台尺寸   170 (W) ×100 (D)  L  
  移动量(X-Y-Z轴)  70 ×70 ×50 L.  
  26. 测量样品限制.      
  样品限制高度:  45L      
  样品限制重量:  3 Kg.    
  捌. 使用电源.      
  27. 电压: AC100V ±10V ; 50/60Hz  
  (选购) AC110V, AC220V.    
  28. 容量: 700V      

 
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