JD-110MIT式耐折度测定仪
一、MIT式耐折度测定仪简介:
MIT式耐折度测定仪是专门检测纸及纸板之耐折强度,试法是将试片两端固定于机上,下夹具施与所须之荷重,使试片承受一定之张力,下夹具在试片垂直状态下向左右两边往复弯折试样,弯折角度为135度,直到折断试片。测定厚度1mm以下,为单折头MIT式,其结构参数和性能全面符合ISO5626和GB2679.5的有关规定。耐折度仪的数据处理由计算机芯片完成。
二、MIT式耐折度测定仪设计标准:TAPPI-T423PM,ASTM-D2176,JIS-P8115,GB/T2679-5
三、MIT式耐折度测定仪主要技术参数:
1.测量范围:≤1 mm;
2.计数范围:0~99999次;
3.折叠角度:135±2°;
4.折叠速度:175±10次/min;
5.折叠头宽度为:19±1mm,折口半径:0.38±0.02mm;
6.弹簧张力:4.91~14.72N,每加9.81N的张力,弹簧压缩至少17mm;
7.折叠口夹缝的距离为0.25,0.50,0.75,1.00mm;
8.外型尺寸:360*300*325mm;
9.重量:37.5kg ;
10.电源:220V 50Hz;
11.功率:90W;
13.电源:1∮ ,AC220V,2.6A
14.工作条件:室温10°C,工作台稳固、台面平