电子 pct加速老化测试仪

　　pct加速老化测试仪产品规格：

　　温度范围：+105.0℃~+142.9℃

　　湿度范围：75%~100%RH

　　温湿度稳定度：±0.5℃、±3℃RH

　　温度分布均度：±1℃

　　压力范围：0.2~2.0kg/cm2G(选配0.2~4.0kg/cm2G)

　　升温时间：室温上升140℃需约120分钟

　　内箱尺寸：￠45×45/￠65×60

　　材质：内外不锈钢板

　　电源：1￠220V60HZ/380V50HZ20A

　　pct加速老化测试仪产品特点：

　　1、圆形横置式内槽结构设计方便使用者取置待测品

　　2、马达驱动磁性风扇机构循环(温度/湿度分布均匀佳)

　　3、安全程序自动停机,自动泄压,自动破真空,自动给水

　　4、HAST设备本体材质SUS#316,外部包装材质SUS#304

　　5、电磁风扇马达循环装置湿度分布均匀

　　6、饱和或不饱和可程控模式

　　7、温度/湿度/湿球/温度/压力/电压显示

　　pct加速老化测试仪详细说明

　　随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了*新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST)现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。

　　东莞艾思荔检测仪器有限公司为广大客户提供优质的pct加速老化测试仪产品，质量可靠是我们的管理目标,薄利多销是我们的经营方针、热情服务是我们的工作宗旨,品质*保*是我们的承诺，欢迎前来咨询!