铜箔测厚仪 铜箔厚度检测仪器

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CHY-CA薄膜测厚仪

适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。仪器采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效*保*了测试的规范性和准确性。

产品应用

薄膜  薄片  复合膜  隔膜  纸张  纸板  箔片  纺织材料

技术特征

严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择

系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可自行设定

实时显示测量结果的*大值、*小值、平均值以及标准偏差等分析数据

支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果

微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看

标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据

测试原理

机械接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测量头自动降落于试样之上，在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。

技术指标

测试范围 ：0～2 mm（常规）、0～6 mm、12 mm（可选）

分 辨 率 ：0.1 μm

测量速度 ：10 次/min （可调）

测试压力 ：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）

接触面积 ：50mm²（薄膜）；200mm²（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

进样步距 ：0～1000 mm

进样速度 ：0.1～99.9 mm/s

电源 ：AC 220V 50Hz

外形尺寸 ：461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)

净重 ：32 kg

标准

ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

配置 主机、标准量块一件、专业软件、通信电缆、测量头

售后服务条例：