使用三维非接触式表面轮廓仪测量过程中,自动多区域测量功能、批量测量、自动聚焦、自动调亮度等一体化操作的测量与分析软件,操作无须进行切换界面,预先设置好配置参数再进行测量,软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能,即可快速实现批量测量功能。中图仪器研发生产的SuperView W1三维非接触式表面轮廓仪以白光干涉技术为原理,结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量。
产品参数
产品型号:SuperView W1系列
产品名称:光学3D表面轮廓仪
影像系统:1024×1024
光学ZOOM:0.5×,(0.75×,1×可选)
干涉物镜:10×,(2.5×,5×,20×,50×,100×可选)
XY平台:尺寸320×200mm,行程140×110mm,电动、手动同时具备,均为光栅闭环反馈
Z轴行程:100mm,电动
Z向扫描范围:10mm
Z向分辨率:0.1nm
可测样品反射率:0.05%-100
水平调整:±5°手动
粗糙度RMS重复性:0.005nm
台阶高测量:准确度0.3%,重复性0.08% 1σ
主要特点:非接触式无损检测,一键分析、测量速度快、效率高
产品性能
纵向扫描:≤10.3mm,与选用物镜相关
扫描帧速:50FPS/s
粗糙度重复性:0.005nm(依据ISO 25178-2012)
光学分辨率:0.4μm~3.7μm,与选用物镜相关
**点数:1048576(标准)
台阶测量:准确度≤0.3%,重复性≤0.08%1σ
因为三维非接触式表面轮廓仪测量精度高、使用方便、分析功能强大、测量参数齐全等优点,以及其独特的光源模式,*证了它能够适用于从光滑到粗糙等各种精密器件的表面质量检测。可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米*别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。