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TerraSpec 是用于矿物分析测量的光谱仪，光谱范围为 350-2500 nm，光谱分辨率为 3 nm @
700 nm 和 6 nm @ 1400/2100 nm。
接触探头可提供与 TerraSpec 光谱仪一起使用的所有固体的非破坏性接触反射测量。 该探
头非常适合矿物样品。 光源类型卤素灯，寿命（大约）1500 小时，卤素灯的色温 2911 +/-
10 度 K，光斑尺寸 10 毫米
TerraSpec 光谱仪通过 Avaatech 核心扫描仪软件使用与XRF测量相似的用户界面进行控制，
从而易于操作。
将激光诱导击穿光谱（LIBS）仪器集成到 XRF 岩心扫描仪中。像 XRF 一样，LIBS 是用于化
学分析的成熟分析技术。LIBS 技术使用激光创建高温等离子体，并记录冷却等离子体中特
定于元素的发射光谱。LIBS 是一种快速的测量技术，即一次测量所需的时间不到一秒，它
能够检测所有元素，包括 XRF 扫描仪未检测到的光元素。
目的是结合 XRF 和 LIBS 技术的优势，开发出功能更强大的核心扫描仪，该扫描仪可以为广
泛的应用提供快速而可靠的化学数据。LIBS 的集成将使核心扫描仪在采矿业的矿物勘探中
特别有用。
我们的彩色线扫描相机配备了 630nm、535nm 和 450nm 的 RGB 通道，以实现良好的通道
分离。相机包含 3 个 4096 像素的传感器，每个像素在白色陶瓷参考瓷砖上校准。该系统能
够扫描长 1600mm、宽 140mm 的物体（岩心样品的**尺寸）。此外，线扫描软件可以在
RGB 和 CIELAB 颜色空间生成视觉彩色图像和颜色数据。然后，用户可以在图像内定义产生
颜色数据的区域。在该区域中，交叉岩心方向上的像素被平均化，但在向下岩心方向上，获
得了优于 0.1mm 的分辨率。默认情况下，系统会生成核心部分的 RGB 和 CIELAB 颜色数据，
该部分也会被 XRF“看到”。可以定义的*小交叉核心区域是一个小于 0.1mm 的像素。
相机通过软件控制。 成像软件可用于指示（ir）岩芯上规则排列的兴趣点（只需用鼠标单
击）。 这些位置可以添加到 XRF 软件中，然后由 XRF 测量.
紫外线扫描
可以改变光源，例如从以下位置进行 UV 发光测量，从珊瑚-碳酸盐-石笋-贝壳-沉积物芯-冰
芯等处进行紫外发光测量。可以用 380nm 的紫外光源代替光源，并使用截止滤光片。颜色
变化可以提供矿物学和有机质含量等信息。为了产生高质量的紫外图像，需要较长的光照时
间。为此，核心扫描仪在 x 轴上有一个特殊的**电动机，齿轮传动低。
动 电动 Y 轴 动 电动 Y 轴
扫描仪的整个光源，检测器和光学系统都可以在 Y 方向（垂直于纤芯深度）上移动，精度
为 0.005 mm。与 X 方向（下芯）上的标准测量值结合使用时，此选项可对分裂芯表面进行
2D 映射。
自动横芯切缝-Huber 切缝
关于 Y 轴（跨芯）方向上的可调狭缝开口， XRF 核心扫描仪可以配备以下两个选项之一：
手动设置狭缝开口（每个岩心扫描仪均标配）或电机控制系统。**提到的是通过核心扫描
仪软件进行操作的，可轻松，精确地调整缝隙开口。在这两种情况下，Y 方向上的狭缝开口
均可设置为 2 到 12 mm。
切芯机
我们的芯分离器专为高质量切割内衬塑料的岩心而设计。纵向分离机构是完全电动的，并使
用钩形刀片将壁厚**为 3mm 的衬里分开。壁厚较厚的衬板可以通过组合使用 2 个旋转刀
具（可精确设置为部分切入衬板）和带钩刀片来完成切割，从而分开。通过这些技术，可以
实现**的切割效果，并且避免了污染沉积物的塑料“切割样品”。*终，未固结的沉积物本
身在实验室的工作台上通过切割丝进行分流。
LIBS
我们致力于与客户进行**性互动，以交流经验和新发现，从而使 XRF Core S
