JWDL-1型金属电阻率测试仪

JWDL-1型金属电阻率测试仪

关键词：金属电阻，导电膜，金属涂层

JWDL-1型金属电阻率测试仪是一款针对于不同金属材料电阻测试的专业设备，不管是铜金属材料，导电金属箔材，金属片等，柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层都可以采用这款设备，金属电阻率测试方案核心原则：一是可以用专门测试金属材料电阻率的钨针探头，二是要知道金属材料的测试范围能够更好的为你选配四探针测试仪。金属材料属于硬质材料，必须要选择碳化钨针探头，这种探头具有耐磨性好，使用时间长。WDL-1型金属电阻率测试仪是判断金属性质的重要设备，也是材料生产厂家和科研的重要设备。

一、主要应用领域：

1、硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；

2、柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻

3、电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量

4、电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

二、主要技术参数：

测量范围

1、电  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω

2、电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm

3、方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□

4、电压量程： 20.00mV～2000mV

5、电流量程： 0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A

6、误差：±0.1%读数±2 字

7、材料尺寸：直径：圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，

         方测试台直接测试方式180mm×180mm，

         长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm,

         测量方位: 轴向、径向均可

8、探头类型：

9、碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调

10、薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调

11、电源：输入: AC 220V±10% ,50Hz  功   耗：<20W

12、外形尺寸：主   机  220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）

       净   重：≤2.5kg