ZKSJD-600型型全自动高低温介电温谱仪
关键词:高低温,介电温谱,-190℃-600℃,薄膜,块体
ZKSJD-600型全自动高低温介电温谱仪是中科院声学所研发的**一款高低温介电温谱仪用于分析宽频、高低温条件下被测样品的介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量,得到这些变化曲线的频率谱、温度谱、介电谱曲线。可广泛应用于铁电压电陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。测温范围从-190℃-600℃,满足目前极端条件下测试的要求,
同时高低温阻抗、介电测量系统软件将高温测试平台,高温测试夹具与WK6500TonghuiSolartron1260LCRTH2826/2827/TH2810Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A测量设备无缝连接,实现了自动完成高温环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外,还可以为用户提供的其他LCR*牌或型号完成定制需求。软件可根据实验方案设计,通过测量C和D值,自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。一次测量,同时输出,测量效率高、数据丰富多样,是实验室开发和研究新材料的重要测量手段。在生产质量控制和优化上也是强有力的工具。
一、产品特点:
1)高温介电温谱仪-高温介电测量系统;
2)测量精度高,控温,测量频率宽,抗交流干扰;
3)介电软件功能强大,拥有完善的测量系统;
4)直接得出介电常数实部和虚部的比值曲线;
5)直接得出复阻抗实部和虚部比值曲线的Cole-Cole图;
6)直接得出机械品质因数Qm;
7)集方案、测量、分析、数字化显示于一体集成化设计;
8)自主研发设计电极系统,重复性更好,稳定性更高;
9)高温、宽频下测量材料的介电性能;
10)一次只能测量一个样品,测量准确度更高;
11)高温介电测量系统与安捷伦、稳科阻抗产品wan美兼容;
12)多种温度选型,软件免费升*。
二、主要技术参数:
温度范围 -190℃-600℃
控温精度 ±1℃
频率范围:20Hz-50MHz
测量精度:0.05%
控温方式 连续升温和分段升温
测量精度 0.1℃
升温斜率 0-10℃min(典型值3℃min)
控温方式 PID精确控温
显示控制 电脑直接显示
数据接口 USB接口
冷却方式 液氮
降温斜率 0-1℃/mim(典型值3℃/min)
测量精度:0.05%
测量原理:平行板电容器原理
供电:220V±10%,50Hz
工作环境:0℃-55℃
样品尺寸:φ≤15min,d=3mm
测量方式:2线-4线测量
电极材料:铂金
仪器尺寸:750×550×560