TZTFE-2000薄膜铁电测试仪

TZTFE-2000薄膜铁电测试仪

TZTFE-2000薄膜铁电测试仪是一款应用于薄膜材料的铁电性能测试的设备，该设备具有动态电滞回线(DHM)、I-V特性、脉冲(PUND)、静态电滞回线(SHM)、疲劳(FM)、漏电流(LM)、电流-偏压、保持力(RM)、印迹(IM)的测试功能.，可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。

TZTFE-2000薄膜铁测试仪与探针台配套使用，可实现薄膜的铁电性能测试。动态电滞回线测试频率和激励测试电源，用户可根据需要进行选择，动态电滞回线测试频率范围为1mHz～500kHz可选，激励测试电源±10/30/100/200/500VAC可选，也可根据用户需要进行定制。

TZTFE-2000薄膜铁测试仪本测试系统由主控器、探针台、计算机及系统软件部分组成。主控器集成了内置激励测试电源、电荷积分器、可编程放大器、模数转换器、通讯总线等功能，系统软件包括可视化数据采集和管理功能，测试时，无需改变测试样品的连接，即可实现滞回，脉冲，漏电，IV等性能测试。

本测试系统铁电性能测试采用改进的Sawyer- Tower测量方法，与传统的Sawyer- Tower模式相比，此电路取消了外接电容，可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度，减少了对测试的影响环节，容易定标和校准，并且能实现较高的测量准确度。

本系统提供外接高压放大器的接口，对于需要做高压测试、高压漏电流测试 的用户，可直接扩展此功能。

用户选择此款设备，需向厂家提供测试频率、激励测试电压等要求。

测试功能：

· 动态电滞回线(DHM)

· I-V特性

· 脉冲(PUND)

· 静态电滞回线(SHM)

· 疲劳(FM)

· 漏电流(LM)

· 电流-偏压

· 保持力(RM)

· 印迹(IM)

可扩展部件：

· 探针台

· 主要技术参数：

1.电压范围（内置电压）：±40V，（可外接高压放大器，**10KV）；

2.ADC位数：18；

3.*小电荷分辨率：≤10fC；

4.**电荷分辨率：276μC；

5.**电滞回线测试频率：0.03Hz~300KHz；

6.*小电滞回线测试频率：0.01Hz；

7.*小脉冲宽度：1μs；

8.*小脉冲上升时间：50μs；

9.**脉冲宽度：1μs；

10.额定功率：≥500W；

11.设备总电源方式：AC：220V；

12.配备JKTD型探针台(尺寸:直径30mm,材质：铜,线缆：同轴线/三轴线；)

13.漏电精度：1pA；

14.固定探针：弹簧固定/管状固定；

15.接头类型：BNC/三轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子。

选配高压功率放大器:

1.输出电压：-200～200V

2.输出电流：-100～100mA

3.大信号带宽：DC≥500KHz/s

4.小信号带宽：DC≥10kHz(-3dB)

5.随时间稳定性：50ppm/小时；

6.随温度稳定性：200℃；

7.精度：≤0.1%满量程；

8.设备带有TTL接口；

9.设备带有远端控制BNC接口；

10.供电：220V，50Hz。